高溫高濕性能變化箱經(jīng)常用于研究或鑒定高分子材料耐老化性能的種人工加速濕熱老化試驗(yàn)，也可用來研究或?qū)嶒?yàn)推算某些高分子材料的使用壽命和貯存期。它是將試驗(yàn)物品暴露于潮濕的熱空氣環(huán)境中，經(jīng)受熱空氣(高溫)和水蒸汽(高濕)的作用，按預(yù)定時(shí)間檢測(cè)試樣的性能變化，從而評(píng)定各種工業(yè)產(chǎn)品的恒溫恒濕老化性能。恒溫恒濕老化試驗(yàn)條件必須根據(jù)材料性能、使用條件及試驗(yàn)?zāi)康囊蠹右源_定。
選型資料：
常規(guī)型號(hào)有: AP-HX-80D；AP-HX-100D；AP-HX-150D；AP-HX-225D；AP-HX-408D；AP-HX-800D；AP-HX-1000D
工作室內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）: 40*50*40；50*50*40；50*60*50；50*75*60；60*85*80；100*100*800；100*100*100；
設(shè)備內(nèi)箱尺寸寬*高*深（cm）約: 98*135*98；105*147*105；108*150*108；107*160*119；120*173*128；156*183*130；157*186*150；
功率: 因?yàn)椴煌某叽缗洳煌臏囟确秶β蕰?huì)有所不同，請(qǐng)根據(jù)愛佩廠家提供的技術(shù)規(guī)格書上的為準(zhǔn)。
溫度可選擇范圍: A:0℃～150℃ B:-20℃～150℃ C:-40℃～150℃ D:-70℃～150℃（每個(gè)尺寸都可以配這些溫度范圍中的其中段）
均勻度/波動(dòng)度: ±2℃/±0.5℃
高溫恒溫的升溫速率: 1.0～3.0℃/min
低溫恒溫的降溫速率: 0.7～1.0℃/min
主要控制器: 進(jìn)口LED數(shù)顯P.I.D + S.S.R.微電腦集成控制器(可編程)
精度范圍: 設(shè)定精度：溫度±0.1℃，指示精度：溫度±0.1℃，解析度：0.01℃
溫度傳感器: 鉑金電阻 PT100Ω/MV
高溫高濕性能變化箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
性能指標(biāo)符合GB5170、2、3、5、6-2008 《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法低溫、高溫、恒定濕熱、交變濕熱試驗(yàn)設(shè)備》的要求
GJB150.3(ML-STD0-810D)高溫試驗(yàn)方法
GJB150.4(MIL-STD-810D)低溫試驗(yàn)方法
GJB150.9-1986《設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法：濕熱試驗(yàn)》
GJB4.5-1983《船舶電子設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)恒定濕熱試驗(yàn)》
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法GB 2423.1-2008 (IEC68-2-1)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法GB 2423.2-2008 (IEC68-2-2)
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法GB/T 2423.3-2008（IEC68-2-3）
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Da：交變濕熱試驗(yàn)方法GB/T423.4-2008(IEC68-2-30)